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美國(guó)奧林巴斯測(cè)厚儀PLUS及探頭D799高精度
更新時(shí)間：2024-04-02
美國(guó)奧林巴斯測(cè)厚儀 38DL PLUS 超聲波測(cè)厚儀 奧林巴斯探頭 38DL PLUS超聲測(cè)厚儀性能高級(jí)、操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、結(jié)果可靠38DL PLUS測(cè)厚儀是一款開創(chuàng)超聲測(cè)厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測(cè)厚儀可地適用于幾乎所有超聲測(cè)厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭兼容。
38DL美國(guó)奧林巴斯測(cè)厚儀PLUS及探頭D799高精度的詳細(xì)資料
美國(guó)奧林巴斯測(cè)厚儀 38DL PLUS 超聲波測(cè)厚儀 奧林巴斯探頭
38DL PLUS超聲測(cè)厚儀
38DL PLUS測(cè)厚儀是一款開創(chuàng)超聲測(cè)厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測(cè)厚儀可地適用于幾乎所有超聲測(cè)厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭兼容。功能齊全的38DL PLUS測(cè)厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對(duì)內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測(cè)量，以及使用單晶探頭對(duì)薄壁或多層材料進(jìn)行的極其的壁厚測(cè)量。38DL PLUS的標(biāo)準(zhǔn)配置帶有很多既強(qiáng)大又易于使用的測(cè)量功能，以及一些專用于某些特殊應(yīng)用的軟件選項(xiàng)。其密封機(jī)殼的設(shè)計(jì)符合IP67評(píng)級(jí)要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴(yán)酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測(cè)厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在黑暗中都能具有可視性。測(cè)厚儀的鍵區(qū)既簡(jiǎn)潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。
可與雙晶和單晶探頭兼容。寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能，用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量。多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。差分模式和縮減率模式。時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
38DL PLUS測(cè)厚儀的設(shè)計(jì)宗旨是滿足苛刻的應(yīng)用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的惡劣條件下正常工作。無論檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進(jìn)行檢測(cè)工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅(jiān)固結(jié)實(shí)的測(cè)厚儀器，那么，符合IP67評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)、帶有橡膠保護(hù)套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。
袖珍型，僅重0.814公斤。
堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。爆炸性氣氛：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試，可在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級(jí)2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中操作。防撞擊測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。防振動(dòng)測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)。寬泛的工作溫度范圍。帶有支架的橡膠保護(hù)套。彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置，具有清晰度。
可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)。可直接訪問所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面。內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。USB和RS-232通訊端口。可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。
38DL PLUS測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中最常使用的是雙晶探頭。用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。校準(zhǔn)過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。用于測(cè)量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能。高溫測(cè)量：溫度可高達(dá)500°C。鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測(cè)量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。EMAT探頭（E110-SB），用于對(duì)外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測(cè)量。
使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測(cè)量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和厚度測(cè)量的性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測(cè)量時(shí)的實(shí)際（高）溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。
38DL PLUS使用高級(jí)算法測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。
用戶使用這項(xiàng)正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí)，這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。
用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值（3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)；10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)），儀器就會(huì)創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。
所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。
用戶使用單晶探頭可以測(cè)量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項(xiàng)可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其的厚度測(cè)量。對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測(cè)量值。高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層的厚度同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量厚度、聲速或渡越時(shí)間。帶有默認(rèn)和自定義設(shè)置的自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量。